成果介紹
本發(fā)明提供一種適用于多天線測(cè)試的轉(zhuǎn)接裝置,包括依次層疊的第一金屬地板、第一介質(zhì)層、第二金屬地板、第二介質(zhì)層和天線層,還包括金屬柱組、用于向天線層所載入的天線體饋電的第一探針和用于與接頭相接的第二探針;第一金屬地板上設(shè)置有鏤空槽,鏤空槽內(nèi)設(shè)置有梯度微帶;梯度微帶的寬度存在梯度變化,其一端與第一探針相接,另一端與第二探針相接;金屬柱組中的金屬柱沿著鏤空槽的邊依次排列;金屬柱一端與第一金屬地板連接,另一端與第二金屬地板連接。該設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、對(duì)天線性能影響小、加工工藝簡(jiǎn)單、成本低,多個(gè)共面波導(dǎo)整合并共用同一第二金屬地板即能夠在小的測(cè)試面積及較低的費(fèi)用前提下,實(shí)現(xiàn)測(cè)試多個(gè)天線性能,測(cè)試難度低。
成果應(yīng)用案例介紹
信息通信>天線>多天線; 機(jī)械設(shè)備>其它機(jī)械設(shè)備類>適配器裝置; 測(cè)量實(shí)驗(yàn)>測(cè)試方法>測(cè)試